講　師 (株)日東分析センター　豊橋事業所　テクニアルアドバイザー　河辺 雅義　氏

日　時 平成２２年　４月１９日(月）　１０：３０～１６：３０

会　場 ［東京・五反田］　ゆうぽうと　５Ｆ　たちばな
　
聴講料 １名につき４９，９８０円　(消費税含む・昼食/資料付)
〔１社２名以上同時申込の場合１名につき３９，４８０円〕

　
　
　
プログラム
　
【講演項目】

１．高分子材料における表面分析の重要性
　　　1.1　目的に合わせた分析手法の選択

２．試料の前処理、調整手法
　　　2.1　サンプリングはどうするか
　　　2.2　データを取りやすくするにはどうするか

３．表面形状、厚さ、物性：各種測定手法と使い分け
　　　3.1　走査電子顕微鏡(SEM)
　　　3.2　透過電子顕微鏡(TEM)
　　　3.3　コンフォーカルレーザー顕微鏡
　　　3.4　X線CT
　　　3.5　磁気共鳴イメージング(MRI)
　　　3.6　原子間力顕微鏡(AFM)
　　　3.7　エリプソメータ
　　　3.8　視斜角入射Ｘ線回折(GIXD)
　　　3.9　X線反射率(XR)法

４．表面の濡れ：原理は？　何が判るのか？
　　　4.1　表面張力
　　　4.2　接触角
　　　4.3　前進接触角、後退接触角
　　　4.4　動的接触角、湿潤張力緩和

５．表面の元素や官能基を調べるには？
　　　5.1　X線光電子分光法(XPS)
　　　5.2　原理からC60による深さ分析まで

６．最表面の化学情報を得るには？
　　　6.1　飛行時間型２次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
　　　6.2　原理から精密斜め切削(SAICAS)との組み合わせまで

７．表面・界面の組成情報を得るには？
　　　7.1　フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)の原理から10nmの表面層を調べる応用技法まで
　　　7.2　ラマン分光法の原理から応用まで
８．無機材料の表面分析は？
　　　8.1　オージェ電子分光(AES)
　　　8.2　電子線マイクロアナライザ(EPMA)
　　　8.3　グロー放電発光表面分析法(GD-OES)

９．その他の新しい表面・界面分析方法
　　　9.1　Spring-8
　　　9.2　J-PARK
　　　9.3　陽電子消滅法

１０．高分子の表面改質手法とその分析
　　　10.1 高分子の各種表面処理方法
　　　10.2 コロナ処理からプラズマ処理まで

１１．測定データの解釈
　　　11.1　赤外スペクトルから判ること、読み方のコツ
　　　11.2　各種解析ソフト
　　　11.3　組成、成分解析上の注意点と関連参考書

【質疑応答】