～きれいなスペクトルを得るためのコツ･テクニック～

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講　師 （株）堀場製作所　分析センター　センター長　内原 博 氏

日　時 平成２０年６月２５日(水）　１０：３０～１６：３０

会　場 ［東京・大井町］　きゅりあん 　４Ｆ　第２特別講習室

聴講料 1名につき ４９,９８０円 （消費税込・昼食、資料付）
〔１社２名以上同時申込の場合のみ １名につき３９,４８０円〕

プログラム

【習得できる知識】
FT-IRによる分析技術向上、サンプリング技術、 サンプリング道具の効果的な使い方

【講座の趣旨】
赤外分光分析では，KBr錠剤法を始め，ATR法，拡散反射法，顕微鏡測定法など多くの測定方法があるが，これらの測定方法において試料の前処理が適切でない場合，綺麗なスペクトルが得られず，スペクトル解析が困難となる。今回，各種測定方法での問題点などを良否スペクトルを示しながら分かり易く説明する。また、異物分析で必要とされるサンプリング技術としてサンプリングツールやツールの効果的な使い方や簡単な手入れ方法のポイントなども紹介する。

１．良好なスペクトルを得るためのFT-IRの基礎知識
　1-1 その分解能で大丈夫？
　1-2 積算時間は十分ですか？
　1-3 そのピークは本当に試料のピーク？
　1-4 試料室パージ効果は何の為？
　1-5 得られたスペクトルは解析に使える？

２．各種測定手法の特徴と注意点(顕微FT-IR含む)
　2-1 透過法/干渉縞について　
　2-2 ＫＢr錠剤法　
　2-3 ヌジョール法　
　2-4 液セル法
　2-5 液膜(Neat)法　
　2-6 各種アクセサリーの調整ポイント
　2-7 全反射吸収法(ＡＴＲ法) 　
　2-8 拡散反射法(ＤＲＳ法)
　2-9 正反射／高感度反射法(ＲＡＳ法)　
　2-10 熱分解法　

３．サンプルのピックアップツールおよびノウハウ紹介
　3-1 どのようにして異物を特定するか？
　3-2 失敗しない異物の取り出し方
　3-3 ミクロトームを使用しない多層試料の切断と分析方法
　3-4 ニードルの手入れ各種
　3-5 プレス治具の手入れ方法

４．応用分析例

【質疑応答】